Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG)

This tender with title Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG) -- Scanning electron microscopes has been published on Bidding Source portal dated 02 May 2021 for the country of France. It has been categorized on Scanning electron microscopes. For similar tenders you can see tenders mentioned below of this page.